Technisches Messen: Expected value of the root mean square of sinefitting residuals in the presence of phase noise or sampling jitter

Alegria, Francisco André Corrêa

Expected value of the root mean square of sinefitting residuals in the presence of phase noise or sampling jitter / Alegria, Francisco André Corrêa (Rights reserved)

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Periodical

Title:: Technisches Messen

Publication:: Berlin: De Gruyter

Note:: Gesehen am 03.10.2015; 355!Verl.-URL gelöscht(09-10-13)

Scope:: Online-Ressource

ISSN:: 2196-7113

ZDB-ID:: 2025790-9

VÖBB-Katalog:: 35304444

Previous Title:: ATM + meßtechnische Praxis

Keywords:: Messtechnik ; Zeitschrift ; Zeitschrift

Classification:: Technik

Collection:: Technik

Copyright:: Rights reserved

Accessibility:: Eingeschränkter Zugang mit Nutzungsbeschränkungen

Article

Author:: Alegria, Francisco André Corrêa

Title:: Expected value of the root mean square of sinefitting residuals in the presence of phase noise or sampling jitter

Publication:: Berlin: De Gruyter, 2025

Language:: English

Information:: Abstract: This work presents a study regarding the expected value of the root mean square value of the residuals obtained by fitting a three-parameter sinusoidal model to a set of data points. The influence of phase noise on the signal or jitter in the sampling instants is derived from a theoretical point of view. A detailed presentation is given justifying the analytical expression proposed. Approximations are made in order to obtain a simple mathematical expression that relates the factors that play a role, namely the phase noise or jitter standard deviation, the number of data points and the sinusoidal signal amplitude. Numerical simulation results, obtained with a Monte Carlo type procedure, are presented which validate the approximations made and show the accuracy of the analytical expression for a range of parameter values. The phase noise or jitter that affected the data points was considered to be normally distributed with a null mean.

Scope:: Online-Ressource

Note:: Kein Open Access; Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet

Keywords:: sinewave fitting ; bias ; phase noise ; jitter ; numerical simulation ; Monte Carlo procedure ; Sinusanpassung ; Bias ; Phasenrauschen ; Jitter ; numerische Simulation ; Monte-Carlo-Verfahren

Classification:: Technik; Mathematik

URN:: urn:nbn:de:101:1-2511290534125.904446130221

Collection:: Technik; Mathematik

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